離子遷移測試儀
★ 離子遷移測試
離子遷移(CAF )測試是評價電子產(chǎn)品或元件的絕緣可靠性的一種測試方法,將樣品置于高溫高濕度的環(huán)境中,并在相鄰的兩個絕緣網(wǎng)絡(luò)之間施加一定的直流電壓(偏置電壓),在長時間的測試條件下,檢測兩個網(wǎng)絡(luò)之間是否有絕緣失效。
實踐證明,將測試樣品放置于高溫高濕的環(huán)境試驗箱中,并在線路板上焊接電纜線,施加偏置電壓,然后每隔一段時間,將PCB從環(huán)境試驗箱中取出,進行絕緣電阻測試,這種間斷式的測試方法,會漏過很多實際發(fā)生的離子遷移。
有效的離子遷移測試,需要將測試樣品放置于高溫高濕的環(huán)境試驗箱中,并在線路板上焊接電纜線,引出至環(huán)境試驗箱外的有關(guān)測試設(shè)備上,在線路板上施加促進離子遷移發(fā)生的偏置電壓和進行絕緣電阻測試,同時能實時檢測測試樣品上的泄漏電流。
★MIR 絕緣電阻測試系統(tǒng)主要用途:
PCB基材,PCB,電容,連接器等元件的絕緣可靠性測試SMT助焊劑清洗工藝的評價電子絕緣材料,電纜及線材的絕緣老化性能評估
★MIR 絕緣電阻測試系統(tǒng)主要特點:
●MIR絕緣電阻測試系統(tǒng)適應(yīng)IPC, IEC,JPCA,ISO ,Bellcore等標準。
●每個Slot提供多達32個測試通道,系統(tǒng)可提供32*n(n=1,2...)不同數(shù)量通道。
●模塊化結(jié)構(gòu),不僅易于擴展,還易于進行故障定位和維修。
●采用高精度絕緣電阻儀作為核心儀表。
●系統(tǒng)集成試驗箱溫濕度測試。
●每個Slot的測試參數(shù)可以獨立設(shè)置。
●可以檢測測試電纜開路或短路。
●可對絕緣電阻和漏電流的測量結(jié)果進行校正。
●偏置電壓極性可變換。
●可以設(shè)置絕緣電阻下降一定程度或低于一定值作為離子遷移發(fā)生的判斷條件。
●首創(chuàng)遷移次數(shù)和漏電次數(shù)設(shè)定。
●系統(tǒng)可以跳轉(zhuǎn)至絕緣電阻驗證測試。
●測試狀態(tài)和數(shù)據(jù)以表格,曲線,統(tǒng)計等多種界面呈現(xiàn) 。
●每個通道的漏電流實時高速檢測,防止錯過短暫和細小的遷移的發(fā)生。
●系統(tǒng)每一通道都獨立設(shè)置保護電路電阻以及轉(zhuǎn)換開關(guān)。
●專用PCB離子遷移測試夾具。