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離子遷移測試儀

應(yīng)用領(lǐng)域:
● 機械加工及生產(chǎn)
● 電子產(chǎn)品生產(chǎn)
● 精密儀表制造
● 塑膠加工生產(chǎn)
● 數(shù)碼產(chǎn)品生產(chǎn)
● 軍工,航空等一切精密檢測

★ 離子遷移測試


離子遷移(CAF )測試是評價電子產(chǎn)品或元件的絕緣可靠性的一種測試方法,將樣品置于高溫高濕度的環(huán)境中,并在相鄰的兩個絕緣網(wǎng)絡(luò)之間施加一定的直流電壓(偏置電壓),在長時間的測試條件下,檢測兩個網(wǎng)絡(luò)之間是否有絕緣失效。


 

實踐證明,將測試樣品放置于高溫高濕的環(huán)境試驗箱中,并在線路板上焊接電纜線,施加偏置電壓,然后每隔一段時間,將PCB從環(huán)境試驗箱中取出,進行絕緣電阻測試,這種間斷式的測試方法,會漏過很多實際發(fā)生的離子遷移。


 

有效的離子遷移測試,需要將測試樣品放置于高溫高濕的環(huán)境試驗箱中,并在線路板上焊接電纜線,引出至環(huán)境試驗箱外的有關(guān)測試設(shè)備上,在線路板上施加促進離子遷移發(fā)生的偏置電壓和進行絕緣電阻測試,同時能實時檢測測試樣品上的泄漏電流。


★MIR 絕緣電阻測試系統(tǒng)主要用途:


 PCB基材,PCB,電容,連接器等元件的絕緣可靠性測試SMT助焊劑清洗工藝的評價電子絕緣材料,電纜及線材的絕緣老化性能評估





★MIR 絕緣電阻測試系統(tǒng)主要特點:

 

MIR絕緣電阻測試系統(tǒng)適應(yīng)IPC, IEC,JPCA,ISO ,Bellcore等標準。

 

每個Slot提供多達32個測試通道系統(tǒng)可提供32*nn=1,2...)不同數(shù)量通道

 

模塊化結(jié)構(gòu),不僅易于擴展還易于進行故障定位和維修。

 

采用高精度絕緣電阻儀作為核心儀表。

 

系統(tǒng)集成試驗箱溫濕度測試。

 

每個Slot的測試參數(shù)可以獨立設(shè)置 


可以檢測測試電纜開路或短路。

 

可對絕緣電阻和漏電流的測量結(jié)果進行校正。

 

偏置電壓極性可變換。

 

可以設(shè)置絕緣電阻下降一定程度或低于一定值作為離子遷移發(fā)生的判斷條件。


首創(chuàng)遷移次數(shù)和漏電次數(shù)設(shè)定。

 

系統(tǒng)可以跳轉(zhuǎn)至絕緣電阻驗證測試。


測試狀態(tài)和數(shù)據(jù)以表格,曲線,統(tǒng)計等多種界面呈現(xiàn) 。

 

每個通道的漏電流實時高速檢測,防止錯過短暫和細小的遷移的發(fā)生。


系統(tǒng)每一通道都獨立設(shè)置保護電路電阻以及轉(zhuǎn)換開關(guān)。

 

專用PCB離子遷移測試夾具。



     



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